SJ 20450-1994 封装电子元件用化合物涂料及瓷料规范

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中华人民共和电子行业军用标准J *,FL 5970 SJ 20450-94,封装电子元件用化合物,涂料及瓷料规范,Specification of compound 9 coating and porcelain,for potting electronic components,1994- 09-30 发布,mv -ci— — コ 3,1994-12-01 实施,A,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国包子行业军用标准,封装电子元件用化合物、涂料及瓷料规范SJ 20450-94,Specification of compound 9 coating and porcelain,for potting electronic components,1 范,1.1 主题内容,本规范规定了封装电子元件用的瓷封灌注化合物的要求、质量保证规定、交货准备等,1.2 适用范围,本规范适用于封装电子元件用的瓷封灌注化合物,2引用文件,GB 2421—82 电エ电子产品基本环境试验规程总则,GB 559 氧化镀瓷导热系数测定方法,GB 9530 电子陶瓷名词术语,5,GJB 179—86计数抽样检査程序及表,3要求,3.1 试制样品,当否同或订单中有规定时,应提供试制样品,试制样品应符合本规范的所有要求,3.2 材料,本规范所包括的灌注化合物应是ー种粉末陶瓷化合物,加水性胶粘剂.混合后,固化成刚性,3.2.1 固化,当粉未与水性胶粘剂按ー定比例进行混合,并按下列固化周期中的任何ー个固化后,灌注,化合物应符合本规范的要求:,时间(h),24,4.5,温度(C),25±5,75 ± 5,3-3已固化的灌注化合物的物理性能,灌注化合物根据制造厂的说明书进行混合固化后,应符合本规范的物理性能要求。这种化,合物应因固化而呈现轻微的膨胀,中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01 实施,1,SJ 20450-94,3.3.1热导率,已固化的灌注化合物的热导率,至少应具有17W/m ?Ke,3.4低温贮存,已固化的灌封料在ー55士3c下贮存72h后,应符合本规范的要求,3.5加工エ艺,加工エ艺应保证产品质量一致,并符合本规范的要求,以及保证产品正确地进行包装和装,箱。这种灌注化合物应无污染和杂质.容器应清洁,均匀地装满,良好地密封及清楚地进行标,记,4质■保证规定,4.1 检验责任,除非合同或订单上另有规定,承制方应负责完成本规范规定的所有检验。必要时,订购方,或上级主管部门有权对本规范所述的任一检验项目进行检査,4.1.1 合格责任,所有产品必须符合本规范第3章和第5章的所有要求。本规范中规定的检验应成为承制,方整个检验体系或质量大纲的ー个组成部分。若合同中包括本规范未规定的检验要求,承制方,还应保证所提交验收的产品符合合同要求。质量一致性抽样不允许提交明知有缺陷的产品,也,不能要求订购方接收有缺陷的产品,4. 2检验分类,检验分类如下],a. 试制检验;,b.质量一致性检验,4.3检验条件,除另有规定外,所有检验应在GB2421所规定的正常试验大气条件下(温度15.35。。、相,对湿度45%.75%、气压86.106kpa)进行,4ソ4试制检验,4.4.1 样本,根据本规范进行试制检验的样本,应能代表随后生产的产品,并应符合本规范规定的所有,要求,4.4.2 抽样,试制检験的抽样应由V[货単位规定Q,4.4- 3检査’,试制检査应由本规范规定的所有质量一致性检查组成,4丒4"试验,试制试验应由本规范规定的所有质量一致性试验加上下列试验组成,4.4.4.1低温贮存,已固化的灌封料应置于温度为ー55士3C的恒温箱内至少保持72h。当完成?2h暴露时,应使灌封料在室温下稳定。然后进行试验,以确定是否符合本规范规定的所有质量一致性检验,ザ而く 日n 〇,4.5质量一致性检验,ん,SJ 20450—94,4丒5J批,用基本相同材料在基本相同的条件下,由同一制造厂在ー个连续操作中生产的灌注化合,物为ー批,4.5- 2抽样,4丒5.2.1检査的抽样,除4. 5. 2. 1. 1中所规定的外,检査的抽样应是100%的产品,4. 5. 2.1.I容器检验抽样,装满灌注化合物的容器的随机样本应由检验人员按GJB 179的一般检査水平I和合格质,量水平AQL=2. 5进行抽样与检査,以鉴定是否符合有关装料、封闭和标记的所有要求,4丒5.2丒2试验的抽样,除非另有规定,应从每ー批中随机抽取样本进行试验,样本大小应足以完成所要求的试,验,并应采用制造厂的名称、产品编号、批号及制造日期进行标记,4.5.3 质量一致性检査,应进行4. 5. 2.1中规定样本的外观检査,以确定是否符合结构和工艺的要求以及在5. 1,节中规定的包装、装箱和标记的要求,4丒5丒3丒1容器检验,装满灌注化合物的容器的每ー样本均应检査是否存在容器结构缺陷和证明泄漏的封闭结,构缺陷,以及检査是否有标记不当,每ー装满的容器还应称重,以确定其含化合物的数量。样本,中的任何ー只容器有一个或ー个以上的缺陷,或少于所要求的装满量则构成缺陷,如果在任何,样本中有缺陷的容器的数目超过GJB 179的相应抽样方案的可接收量,则该样本所代表的批,应予拒收。如果承制方已剔除或修复了所有不合格的容器,则拒收批可再交付检验,4.5.4 试验,4.5.4.1 试验方法和程序,4. 5. 4.1.1 试样,在4. 5, 4. 2中规定的试验应根据试验方法的要求制备5个试样,4.5. 4.2 试验,4. 5. 4- 2.1热导率,灌注化合物试样应按GB ……

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